Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий — В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Наряду с анализом тепловых моделей ППИ представлены новые оригинальные методы диагностического контроля их качества по теплоэлектрическим характеристикам, в частности методы контроля качества светоизлучающих диодов по частотным и токовым зависимостям модуля теплового импеданса и токовым зависимостям теплового сопротивления. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Название: Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий Автор: Горлов М. И., Сергеев В. А. Издательство: Ульяновск: УлГТУ Год: 2015 Страниц: 406 Формат: PDF Размер: 10,62 Мб ISBN: 978-5-9795-1470-3 Качество: Отличное
Все материалы размещенные на сайте //gigabyt.at.ua/ пренадлежат их владельцам и предоставляются исключительно в ознакомительных целях. Администрация ответственности за содержание материала не несет и убытки не возмещает. По истечении 24 часов материал должен быть удален с вашего компьютера. Незаконная реализация карается законами РФ и Украины: "Об авторском и смежном праве". При копировании материала, ссылка на сайт обязательна!
