Измерение параметров цифровых интегральных микросхем — Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля. Для инженерно-технических работников — разработчиков цифровых ИС и аппаратуры на их основе, а также для специалистов по метрологическому обеспечению выходного и входного контроля ИС.
Название: Измерение параметров цифровых интегральных микросхем Автор: Эйдукас Д. Ю., Орлов Б. В., Попель Л. М., Лышенко В. И., Шаромет О. Н., Данилин Н. Н., Издательство: Радио и связь Год: 1982 Страниц: 368 Формат: DJVU Размер: 6,22 МБ Качество: Отличное
Все материалы размещенные на сайте //gigabyt.at.ua/ пренадлежат их владельцам и предоставляются исключительно в ознакомительных целях. Администрация ответственности за содержание материала не несет и убытки не возмещает. По истечении 24 часов материал должен быть удален с вашего компьютера. Незаконная реализация карается законами РФ и Украины: "Об авторском и смежном праве". При копировании материала, ссылка на сайт обязательна!
